led電性能測試數(shù)字源表iv曲線分析
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人氣：79 發(fā)布時間：2025-09-08 14:04 關(guān)鍵詞：led電性能測試 數(shù)字源表 iv曲線儀 iv測試儀 產(chǎn)品型號：P100B 應用領(lǐng)域：電磁輻射 產(chǎn)品價格：1000 想了解更多產(chǎn)品詳情，請 |
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據(jù)客戶要求，搭配相應的光學測試系統(tǒng)，測試相應的光學性能。led電性能測試數(shù)字源表iv曲線分析認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；
（典型二極管I-V特性曲線） （LED光電測試系統(tǒng)示意圖）
Vf正向?qū)妷簻y試
正向?qū)妷海荓ED在正常工作電流下測量的電壓值。當加載在LED兩端的工作電壓，低于導通電壓時，通過LED的電流極小，不發(fā)光。當電壓超過該值后，通過LED的電流隨電壓迅速增加，而后LED發(fā)光。常用測試方法為，將LED的正極接在高電位端，負極接在低電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應的Vf值。
Vr 反向擊穿電壓測試
反向擊穿電壓，是所允許加載在LED兩端的Z大反向電壓。當二極管兩端的反向電壓超過Vr后，反向電流會急劇增大，二極管將失去單方向?qū)щ娞匦，這種狀態(tài)稱為二極管的擊穿。若長時間工作電壓超過Vr，發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時，無需將接線端反接。源表內(nèi)部會自動根據(jù)設定值，切換輸出端的極性。
Ir漏電流測試
漏電流，指LED處于反向偏置狀態(tài)時，流過二極管的微弱反向電流。此時，LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，而后根據(jù)實際測試需要，設定加載在LED兩端的電壓，測量電流Ir。
繪制LED I-V特性曲線測試
連接
如下圖所示，選擇合適的夾具，將LED與P型源表進行連接
（源表測試連接示意圖）
普賽斯P系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品最大輸出電壓達300V，最小測試電流達10pA，分辨率低至1pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應用于各種半導體器件I-V電特性測試，如半導體IC，功率半導體器件，傳感器，LED等。產(chǎn)品具有如下特點：
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1、采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡單方便
2、內(nèi)置豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
3、四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作
4、支持USB存儲，一鍵導出測試報告
5、兼容多種上位機通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
6、可搭配普賽斯自主開發(fā)的上位機軟件使用，快速實現(xiàn)不同器件的測試
